#

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография

0.00
0 Оценок
0
Отзывов

О книге

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника". 2-е издание, стереотипное.

Лучшая цена:
1917 ₽
Наличие в магазинах #
Купить на Лабиринт
1917 ₽
Характеристики
Издательство:
Лань
Год издания:
2021-01-01
ISBN:
978-5-8114-3312-4, 978-5-8114-8773-8

Отзывы

0
Все отзывы

Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
Войти
или
Номер телефона Другие способы
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Другие способы
Через приложение Books.Fan
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Введите номер телефона
Введите код
Мы отправили вам письмо с кодом на
+78786546545
Введите его для подтверждения номера телефона
Не приходит код?