О книге
Рассматриваются возможные типы неисправностей, возникающих в цифровых объектах. Анализируются традиционные методы обработки реакций объектов, предлагаются два новых метода, ориентированные на поиск одиночных дефектов, - метод суммарного вектора и метод суммарных векторов. Для поиска кратных дефектов в системах параллельного диагностирования предлагается метод сравнения с неисправным объектом. Рассматривается способ повышения надежности коммутаторов за счет распараллеливания коммутаций. Предназначено для студентов радиотехнических и компьютерных специальностей, аспирантов, исследователей в области технической диагностики.
Характеристики
Издательство:
Лань
Год издания:
2020-01-01
ISBN:
978-5-8114-4293-5
Отзывы
0Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
0 
