Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронномикроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов
0 Оценок
Отзывов
О книге
В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.
Характеристики
Издательство:
-
Год издания:
-
ISBN:
-
0 
