#

Инженерные основы измерений нанометровой точности

0.00
0 Оценок
0
Отзывов

О книге

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Лучшая цена:
2124 ₽
Наличие в магазинах #
Купить на Лабиринт
2124 ₽
Характеристики
Издательство:
ИД Интеллект
Год издания:
2012-01-01
ISBN:
978-5-91559-119-5

Отзывы

0
Все отзывы

Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
Войти
или
Номер телефона Другие способы
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Другие способы
Через приложение Books.Fan
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Введите номер телефона
Введите код
Мы отправили вам письмо с кодом на
+78786546545
Введите его для подтверждения номера телефона
Не приходит код?