О книге
Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий. Для студентов и аспирантов специальностей «Технологии приборостроения», «Технологии электронных средств», «Нанотехнологии».
Характеристики
Издательство:
-
Год издания:
-
ISBN:
-
Отзывы
0Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
0 
