#

Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений

0.00
0 Оценок
0
Отзывов

О книге

В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта.

Жанры и теги
Лучшая цена:
328 ₽
Наличие в магазинах #
Купить на Литрес
328 ₽
Характеристики
Издательство:
-
Год издания:
-
ISBN:
-

Отзывы

0
Все отзывы

Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
Войти
или
Номер телефона Другие способы
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Другие способы
Через приложение Books.Fan
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Введите номер телефона
Введите код
Мы отправили вам письмо с кодом на
+78786546545
Введите его для подтверждения номера телефона
Не приходит код?