#

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Учебное пособие

0.00
0 Оценок
0
Отзывов

О книге

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов. 2-е издание.

Лучшая цена:
404 ₽
Наличие в магазинах #
Купить на Лабиринт
404 ₽
Характеристики
Издательство:
Флинта
Год издания:
2007-01-01
ISBN:
978-5-9765-0207-9

Отзывы

0
Все отзывы

Чтобы оставить отзыв или проголосовать, необходимо авторизоваться
Войти
или
Номер телефона Другие способы
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Другие способы
Через приложение Books.Fan
При входе на ресурс вы принимаете публичную оферту и обработку персональных данных
Введите номер телефона
Введите код
Мы отправили вам письмо с кодом на
+78786546545
Введите его для подтверждения номера телефона
Не приходит код?